红外焦平面阵列二元非线性的非均匀性理论模型

被引：13

作者：

屈惠明

陈钱

机构：

[1] 南京理工大学电子工程与光电技术学院

来源：

电子学报 | 2008年 / 11期

关键词：

红外成像; 红外焦平面阵列; 非均匀性模型; 二元非线性;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN215 [红外探测、红外探测器];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ;

摘要：

非均匀性校正是红外焦平面阵列成像质量提高的关键,在现有一元线性理论模型局限下,红外焦平面阵列成像非均匀性校正难以获得校正精度的提高.本文通过红外焦平面阵列探测器成像机理及其成像过程理论分析,推导了影响探测器响应及其非均匀性的主要因素,首次建立了红外焦平面阵列二元非线性的非均匀性理论模型,通过实验测试及其统计分析验证了理论模型.该模型能在较宽红外辐射和环境温度范围内准确预测红外焦平面阵列响应曲线及其非均匀性,比原一元线性理论模型更全面准确地描述了红外成像非均匀性影响因素及探测器响应关系.

引用

页码：2150 / 2153

页数：4

共 5 条

[1] 红外焦平面阵列性能参数测试系统 [J].