红外焦平面阵列性能参数测试系统

被引:10
作者
屈惠明
陈钱
顾国华
随修宝
机构
[1] 南京理工大学电子工程与光电技术学院
关键词
红外成像; 红外焦平面阵列; 参数测试系统; 虚拟仪器;
D O I
暂无
中图分类号
TN215 [红外探测、红外探测器];
学科分类号
0803 ; 080401 ; 080901 ;
摘要
基于虚拟仪器技术开发了红外焦平面阵列(IRFPA)性能参数测试系统。该系统可采集IRFPA动态数据,得到IRFPA在不同情况下的各像元响应情况,从而测试计算出IRFPA主要性能参数,进行器件的评估;对采集数据的统计分析,能准确判断盲元位置和数量,定量地测量非均匀性,以测试分析结果为依据进行红外成像图像的补偿和校准,得到了清晰的成像效果。
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共 2 条
[1]   红外焦平面器件盲元检测及补偿算法 [J].
周慧鑫 ;
殷世民 ;
刘上乾 ;
赖睿 .
光子学报, 2004, (05) :598-600
[2]  
Test bench for IRFPA based on CMT and microbolometer[J] . Nicola Liberatore,Andrea Pifferi,Silvio Perri,Maria Elena Marini.Infrared Physics and Technology . 2002 (3)