超声雾化电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯锡锭中痕量杂质元素

被引：30

作者：

周世萍

朱光辉

尹家元

胡秋芬

王光灿

机构：

[1] 云南大学化学系,云南大学化学系,云南大学化学系,云南大学化学系,云南大学化学系昆明,昆明,昆明,昆明,昆明

来源：

分析化学 | 2002年 / 01期

关键词：

超声雾化; 高纯锡锭; 杂质元素; 电感耦合等离子体原子发射光谱;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.3 [光化学分析法（光谱分析法）];

学科分类号：

070302 [分析化学];

摘要：

建立了高纯锡锭中砷、锑、镉等１２种痕量杂质元素的超声雾化－ＩＣＰ－ＡＥＳ测定方法。考察了基体对杂质元素的干扰影响。采用ＨＣｌ＋Ｈ２Ｏ２沸水浴蒸干排Ｓｎ处理，使样品中９０％的Ｓｎ基体挥发与待测元素分离消除基体干扰。方法快速、准确，具有比气动雾化更低的检出限，回收率为８８％～１０３％，ＲＳＤ均小于５％。

引用

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