微型柱分离-ICP-MS法测定高纯氧化铽中14个稀土杂质元素

被引：14

作者：

李继东

伍星

郑永章

机构：

[1] 北京有色金属研究总院

[2] 北京有色金属研究总院北京

[3] 北京

来源：

分析试验室 | 2004年 / 04期

关键词：

电感耦合等离子体质谱(ICP-MS); 高纯Tb4O7; 稀土杂质元素; 微型柱;

D O I：

10.13595/j.cnki.issn1000-0720.2004.0102

中图分类号：

O657.63 [质谱分析];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

研究了微型柱分离电感耦合等离子质谱法(ICP MS)测定高纯Tb4O7中痕量Lu的方法,采用Cyanex272负载树脂微型分离柱,选定了分离大量Tb4O7基体的实验条件,分离周期为40min。建立了微型柱分离Tb后测定Lu以及内标补偿法直接测定其它稀土杂质的高纯Tb4O7中14个稀土杂质元素的ICP MS分析方法。方法检出限为0.003～0.10μg g,加标回收率为86.6%～114%,相对标准偏差为1.1%～18%。方法可满足快速测定99.999%Tb4O7中14个稀土杂质元素的要求。

引用

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共 7 条

[1] 微型柱在线分离-ICP-MS法测定高纯氧化铕中的14个稀土杂质 [J].