基于混沌遗传算法的故障测试集最小化方法

被引：8

作者：

康波

陈光■

吕炳朝

机构：

[1] 电子科技大学自动化工程学院,电子科技大学自动化工程学院,电子科技大学自动化工程学院成都,成都,成都

来源：

仪器仪表学报 | 2005年 / 01期

关键词：

混沌; 遗传算法; 混沌交叉; 混沌变异; 测试; 完备测试集;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.2005.01.022

中图分类号：

TP277 [监视、报警、故障诊断系统];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ;

摘要：

利用混沌序列的随机性、遍历性及规律性等特点来控制遗传算法中交叉与变异操作 ,即混沌交叉与混沌变异 ,提出了一种改进的遗传算法——混沌遗传算法 ,并针对数字集成电路的故障完备测试集的最小化问题的具体特点 ,分析并设计了基于混沌遗传算法的故障测试集最小化方法 ,仿真实验验证了该方法的高效性与实用性 ,其性能明显优于标准遗传算法。

引用

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