机内测试虚警原因的分析及其解决方案

被引：14

作者：

徐永成

温熙森

易晓山

机构：

[1] 国防科技大学机电工程与自动化学院

来源：

振动、测试与诊断 | 2002年 / 01期

关键词：

机内测试; 虚警; 故障诊断; 人工智能; 虚警率;

D O I：

10.16450/j.cnki.issn.1004-6801.2002.01.009

中图分类号：

TJ06 [测试技术及设施];

学科分类号：

摘要：

按照机内测试 (BIT)的设计、生产、运行和维修这个设备全寿命周期的时间历程 ,对BIT各个阶段的虚警原因进行了总结 ,并针对BIT各阶段的虚警原因 ,从BIT设计、BIT硬件、BIT软件、管理与人和环境因素等五个方面提出了一个较为系统和完整的BIT虚警问题解决方案。这为武器装备的测试和维修的深入研究打下了基础 ,对BIT的广泛应用具有指导意义。

引用

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