SolGel法制备PI/SiO2纳米复合薄膜及结构与性能

被引：22

作者：

姜立忠

刘久贵

冯玉仲

罗宁

宋芳

武德珍

机构：

[1] 北京化工大学北京市新型高分子材料制备与加工重点实验室

[2] 北京化工大学北京市新型高分子材料制备与加工重点实验室北京

[3] 北京

来源：

北京化工大学学报(自然科学版) | 2005年 / 01期

关键词：

溶胶凝胶法; 聚酰亚胺; 二氧化硅; 纳米复合薄膜;

D O I：

暂无

中图分类号：

TQ320.721 [];

学科分类号：

摘要：

采用溶胶凝胶法 (Sol Gel)制备了二氧化硅不同质量分数的聚酰亚胺 /二氧化硅 (PI/SiO2 )纳米复合薄膜。并用TEM、力学性能、吸水性能及介电性能测试等方法研究了薄膜的结构与性能。结果表明 ,SiO2 微粒均匀分散在PI基体中 ,粒径随着SiO2 含量的增加而增大 ;当SiO2 质量分数在 2 0 %以内时对PI基体有增强作用 ,且在 1 0 %左右拉伸强度达到最大 ,而吸水率逐渐减小 ,介电常数则变化不大

引用

页码：59 / 61

页数：3

共 5 条

[1]

聚酰亚胺新型材料.[M].丁孟贤;何天白编著;.科学出版社.1998,

[2]

POLYIMIDE-SILICA HYBRID MATERIALS BY SOL-GEL PROCESSING [J].