应用理化分析和机械性能分析方法探索HGIS故障原因

被引：5

作者：

晏年平 ^{[1
]}

于钦学 ^{[2
]}

任文娥 ^{[2
]}

钟力生 ^{[2
]}

机构：

[1] 江西省电力科学研究院

[2] 西安交通大学电气绝缘研究中心

来源：

高压电器 | 2014年 / 50卷 / 07期

关键词：

HGIS; 盆式绝缘子; 能谱; 热重; 理化性能; 机械强度;

D O I：

10.13296/j.1001-1609.hva.2014.07.020

中图分类号：

TM595 [全封闭组合电器];

学科分类号：

摘要：

笔者针对一起500 kV HGIS故障,通过能谱、热重等检测手段,分析了故障气室相关盆式绝缘子的物理化学特性;通过水压强度试验,检测了故障气室相关盆式绝缘子的机械强度变化情况,从而查明HGIS设备故障的根本原因主要来自两个方面:①盆式绝缘子制造过程中,制造厂没有严格执行绝缘件材料(环氧树脂、固化剂、三氧化二铝)的理论配方,或绝缘件材料中存在微量杂质,影响了盆式绝缘子的整体质量;②盆式绝缘子抗机械老化能力不足,在持续机械应力作用下,产生细微裂纹等缺陷,在高强电场的进一步作用下,不断劣化最终形成故障。最后,笔者对新出厂HGIS设备提出了质量管控措施,对在运同厂家、同批次HGIS设备提出了故障预防措施。

引用

页码：111 / 116+122 +122

页数：7

共 18 条

[11]

Fourier-transform infrared spectroscopy for quantification of hydrogen fluoride in sulfur hexafluoride decomposed by partial discharges and sparks[J] . H.M. Heise,R. Kurte.Journal of Molecular Structure . 2003

[12]

Quantitative infrared spectroscopic analysis of SF 6 decomposition products obtained by electrical partial discharges and sparks using PLS-calibrations[J] . R Kurte,H.M Heise,D Klockow.Journal of Molecular Structure . 2001

[13] SF6气体中杂质含量分析在GIS故障分析判断中的应用 [J].