在轨完成CCD非均匀性校正的方法

被引：8

作者：

李丙玉 ^{[1
,2
]}

王晓东 ^{[1
]}

李哲 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

[2] 中国科学院研究生院

来源：

液晶与显示 | 2011年 / 26卷 / 02期

关键词：

在轨; 实时; TDI-CCD; 暗场; 非均匀性;

D O I：

暂无

中图分类号：

V447.3 [];

学科分类号：

08 ; 0825 ;

摘要：

为使空间遥感相机图像具有良好的均匀性,利用XQ2VP40FPGA在轨实时完成TDI-CCD非均匀性校正。首先对CCD非均匀性校正原理进行分析,提出了半饱和灰度值和暗场灰度值的两点校正法;然后,介绍了空间遥感相机的系统结构,利用FPGA实现了校正算法;最后,通过实验对均匀性校正的有效性进行了验证。实验结果证明:FPGA在轨实时完成CCD非均匀性校正的方法是可行的,对于非均匀性5%的TDI-CCD,校正后非均匀性控制在1%以内。

引用

页码：255 / 259

页数：5

共 9 条

[1]

干涉成像光谱仪CCD象元响应非均匀性校正技术[J]. 姚涛,殷世民,相里斌,吕群波.光谱学与光谱分析. 2010(06)

[2] 一种高精度CCD测试系统的非均匀性校正方法 [J].