光子成像计数技术及其新进展

被引：5

作者：

魏继锋

张凯

机构：

[1] 中国工程物理研究院应用电子学研究所

来源：

激光与光电子学进展 | 2007年 / 07期

关键词：

探测; 多阳极通道阵列; 电子轰击CCD; 片上增益CCD;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN29 [光电子技术的应用];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ;

摘要：

介绍了光子成像计数技术的几种主要类型,并详细阐述了其中几种发展迅速且在该领域应用最为广泛的技术,对这些技术目前的发展现状和最新进展也作了详尽的介绍。

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页码：27 / 32

页数：6

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