基于Nuttall窗频谱校正的介质损耗因数测量

被引：20

作者：

万全 ^{[1
]}

高云鹏 ^{[2
]}

罗志坤 ^{[1
]}

徐值坚 ^{[1
]}

卿柏元 ^{[2
]}

机构：

[1] 湖南省电力公司试验研究院

[2] 湖南大学电气与信息工程学院

来源：

仪器仪表学报 | 2010年 / 31卷 / 01期

关键词：

介质损耗因数; Nuttall窗; 插值FFT; 谐波分析法; 误差分析;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.2010.01.003

中图分类号：

TM934.32 [介质损失测量];

学科分类号：

080802 ;

摘要：

采用旁瓣峰值电平小且旁瓣渐近衰减速率大的窗函数对信号加权可减轻非同步采样和数据截断对介质损耗因数tanδ测量的影响。本文分析了Nuttall窗的旁瓣特性,提出了基于Nuttall窗双谱线插值FFT的tanδ测量方法,运用多项式拟合求出了实用的插值修正公式,推导了信号初相角及tanδ的计算式,并介绍了基于该算法的测量系统的硬件实现方案。仿真和试验结果表明,Nuttall窗函数抑制频谱泄漏效果好,基于Nuttall窗的双谱线插值FFT方法克服了谐波干扰、基波频率波动及白噪声对tanδ测量的影响,且设计实现灵活,测量结果精确、稳定,可用于介质损耗因数tanδ的离线测量与在线监测。

引用

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页数：6

共 12 条

[1] 基于Nuttall窗双谱线插值FFT的电力谐波分析方法 [J].