共 4 条
[1]
成像光谱岩矿识别方法技术研究和影响因素分析.[D].张宗贵.中国地质大学(北京).2004, 11
[2]
高光谱多端元线性拟合矿物识别与矿化指示方法[P]. 甘甫平;周强;王润生.中国专利:CN1595110A,2005-03-16