论加速可靠性增长试验(I)新方向的提出

被引：23

作者：

周源泉

朱新伟

机构：

[1] 北京强度与环境研究所!北京

[2] 中国海鹰机电研究院!北京

来源：

关键词：

产品可靠性; 可靠性增长; 可靠性试验; 故障分析; 加速寿命试验; 过载;

D O I：

10.13675/j.cnki.tjjs.2000.06.002

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

在分析总结加速寿命试验 (ALT)及可靠性增长试验 (RGT)的基础上 ,首次提出了加速可靠性增长试验 (ARGT)这个新方向 ,并指出了在研究ARGT时将会遇到的主要问题以及解决这些问题的途径

引用

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