一种基于折叠计数器重新播种的确定自测试方案

被引:42
作者
梁华国
聚贝勒·海伦布昂特
汉斯-耶西姆·冯特利希
机构
[1] 合肥工业大学计算机与信息系!合肥
[2] 因斯布鲁克大学应用计算机科学研究所!因斯布鲁克
[3] 斯图加特大学计算机科学研究所!斯图加特
关键词
扫描自测试; 折叠计数器; 重新播种; 伪随机测试; 输入精简;
D O I
暂无
中图分类号
TN406 [可靠性及例行试验];
学科分类号
摘要
提出了一种基于扫描自测试的确定与混合模式新方案 ,这种方案依赖于一个新型的模式生成器 ,它主要配备一个可编程的约翰逊计数器 ,称之为折叠计数器 .这种新技术首先使用一个小的线性反馈移位寄存器(L FSR) ,生成伪随机测试模式测试容易测试的故障 ,并且获得一个硬故障测试立方集 T;其次采用经典的输入精简技术 ,集合 T的测试立方宽度可以被压缩 ;最终为了能够找出合理的小数目折叠计数器种子 ,来生成这个确定的测试立方集 T,给出了其理论背景和实用算法 .试验结果表明 ,这个所建议的方案与先前所公布的基于线性反馈移位寄存器和约翰逊计数器的重新播种方法相比 ,具有非常出色的结果 .因此它提供了一种有效的、弹性的基于扫描的自测试解
引用
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共 1 条
[1]   Mixed-Mode BIST Using Embedded Processors [J].
Sybille Hellebrand ;
Hans-Joachim Wunderlich ;
Andre Hertwig .
Journal of Electronic Testing, 1998, 12 :127-138