P507萃淋树脂化学光谱法测定高纯氧化镧中痕量稀土杂质

被引：4

作者：

翁永和

机构：

[1] 南开大学化学系

来源：

光谱实验室 | 1984年 / 01期

关键词：

化学光谱法; 稀土杂质; 萃淋树脂; P507;

D O I：

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学科分类号：

摘要：

<正> 一、前言有关高纯稀土中痕量稀土杂质的化学光谱法,常采用萃取色层法进行分离。斯玛涅科娃最早曾用P204为萃取剂、硅球为载体、用0.4N盐酸淋洗,使镧与铈等其它稀土元素分离,用于高纯氧化镧中微量稀土杂质测定。但此法镱、镥等元素不易反萃,且萃取剂及硅烷容易流失;由于P507比P204可在较低酸度下进行分离,有利于重稀土的反萃,已开始用于高纯氧化钇及氧化钕的测定,但此法由于采用纯盐酸体系,主体拖尾现象严重,与杂质元素不易达到较好的定量分离,且萃取剂仍易流失,使浓缩物中含有大

引用

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共 5 条

[1] 用P-204萃淋树脂从克量Er2O3中分离放射性Tm [J].