天基红外探测系统的杂散光分析与计算

被引：21

作者：

牛金星 ^{[1
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]}

周仁魁 ^{[1
]}

刘朝晖 ^{[1
]}

蔡占恩 ^{[1
,2
]}

机构：

[1] 中国科学院西安光学精密机械研究所

[2] 中国科学院研究生院

来源：

光学学报 | 2010年 / 30卷 / 03期

关键词：

红外探测; 杂散光; 仿真软件; 等效噪声辐照度;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN215 [红外探测、红外探测器];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ;

摘要：

探讨了天基红外探测系统的杂散光来源,运用黑体辐射的理论分别对其大小进行了分析和计算。分析地气杂光在探测器靶面的辐照度时,通过在仿真软件中建立模型,应用追迹光线的方法得到了地气表面对相机所张的立体角,从而求出地气杂光在探测相机靶面上的辐照度,减小了计算的复杂度。然后对探测系统的噪声进行了分析,计算了某一个型号Sofradir焦平面器件的噪声等效辐照度(NEI),通过比较发现,杂散光在探测器靶面的辐照度远大于热像仪的NEI,必须对杂散光采取抑制措施。最后对地气杂光的抑制比和光学系统的致冷温度要求进行了分析,结论为系统的设计提供了参考。

引用

页码：768 / 771

页数：4

共 14 条

[1]

红外辐射特性与传输的数值计算.[M].谈和平等; 编著.哈尔滨工业大学出版社.2006,

[2]

红外辐射与制导.[M].徐南荣;卞南华编著;.国防工业出版社.1997,

[3]

红外系统原理.[M].[美]R·D·Jy·哈得逊著;《红外系统原理》翻译组译.国防工业出版社.1975,

[4] 共口径中波/短波偏振红外成像光学系统 [J].