兼顾后续分类器的小波特征选择及在模拟电路故障诊断中的应用

针对模拟电路故障诊断中的特征选择问题,提出了一种兼顾后续支持向量机分类器的小波特征选择技术。新方法利用核函数把特征的评估标准映射至高维空间进行计算,从而在特征的评估和后续支持向量机分类器之间建立联系,并在特征选择阶段解决了核函数的参数设计问题。另外,新方法考虑了所需故障分类器的结构信息,因此选择的小波特征更适合后续分类器使用,从而能够提高模拟电路故障的诊断精度。仿真和实际电路的实验结果均验证了所提出技术的有效性和正确性。