可测性设计技术的回顾与发展综述

被引：20

作者：

王厚军

机构：

[1] 电子科技大学

来源：

关键词：

测量与仪器; 可测性设计; 内嵌自测试; 边界扫描;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP274 [数据处理、数据处理系统];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;

摘要：

介绍了可测性定义、起源和发展过程,简要分析了国内可测性技术的现况和存在问题。对可测性建模、度量、基本方法、相关国际标准、可测性设计平台和可测性技术发展趋势等几个核心问题进行了探讨。

引用

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共 5 条

[1] 可测试性技术的现状与未来
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