ATE系统中基于相关采样定理的ADC测试方法和波形重建

被引：3

作者：

田雨 ^{[1
]}

黄俊 ^{[1
]}

王海涛 ^{[1
]}

肖鹏程 ^{[2
]}

机构：

[1] 重庆邮电大学通信学院

[2] 复旦大学微电子学院

来源：

关键词：

ATE测试; ADC; 相关采样; 波形重建;

D O I：

10.19651/j.cnki.emt.2009.12.040

中图分类号：

TN792 [];

学科分类号：

摘要：

简要的阐述了基于ATE系统的SOC芯片的测试技术,然后重点介绍了SOC芯片中混合信号部分中ADC的测试方法。并对其中起着关键作用的相关采样定理给出了详细的阐述,提出了在实际测试中无法满足定理时的解决方法。通过一款实际的SOC芯片为例,最终给出了实际的测试数据。

引用

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页数：4

共 7 条