多值故障字典的测点选择与序测试设计

被引:14
作者
杨成林
田书林
龙兵
机构
[1] 电子科技大学自动化工程学院
基金
高等学校博士学科点专项科研基金;
关键词
多值故障字典; 测点选择; 序贯测试问题; 可测性设计;
D O I
暂无
中图分类号
TN710 [电子电路];
学科分类号
140101 [集成纳电子科学];
摘要
序贯测试问题是目前的一个研究热点。由于时间复杂度太高,传统的序贯测试算法对于测点数大于12的系统无能为力。为此,将序贯测试问题拆分为测点选择与序测试设计两个问题。测点选择问题用A*算法解决:运用M进制编码规则,首先给出了启发函数的计算方法,然后给出了能够得到所有最小测点集的改进的A*算法。序测试设计问题用AO*算法解决:对二值哈夫曼编码规则进行推广得到了多值编码规则,根据此规则给出了AO*算法启发函数的计算方法。提出的方法更符合可测性设计的设计流程,试验和复杂度分析表明该方法能显著降低传统方法的时间复杂度。
引用
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