测验压力对高考试焦虑大学生工作记忆容量的影响

被引：14

作者：

张小聪 ^{[1
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邹吉林 ^{[3
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董云英 ^{[1
]}

张环 ^{[1
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周仁来 ^{[1
,4
,5
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机构：

[1] 东南大学学习科学研究中心

[2] 南京中医药大学心理学院

[3] 临沂大学教育学院

[4] 南京大学社会学院心理系

[5] 认知科学与学习国家重点实验室(北京师范大学)

来源：

中国临床心理学杂志 | 2015年 / 23卷 / 04期

关键词：

测验压力; 考试焦虑; 工作记忆容量;

D O I：

10.16128/j.cnki.1005-3611.2015.04.015

中图分类号：

R749.72 [];

学科分类号：

100205 ;

摘要：

目的:考察测验压力对高考试焦虑大学生的工作记忆容量的影响。方法:创设高压力和低压力的测验情境,分别测试高、低考试焦虑大学生的工作记忆容量。结果:高压力测验情境下被试的状态焦虑水平显著升高;高考试焦虑被试在高压力情境下工作记忆容量显著降低,而低考试焦虑被试的工作记忆容量在两种实验条件下差异不显著。结论:高测验压力会损害高考试焦虑大学生的工作记忆容量。

引用

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