提高线阵CCD测量光束中心位置精密度的方法

被引:7
作者
朱鹤年
张子良
常缨
房元峰
王长江
机构
[1] 清华大学物理系
关键词
计量学; 光束宽度; 高斯分布; 截尾分布; 加权回归;
D O I
暂无
中图分类号
TH741 [光学计量仪器];
学科分类号
摘要
用线阵CCD测量类钟形分布的光束中心位置时,常用高斯分布模型和最小二乘(LSM)回归计算。提出一种用准高斯分布以提高测量灵敏度、用截取阈值较高的方式以减少噪声影响、用加权LSM回归以提高精密度的方法。由于高斯曲线拟合时的因变量不等权,选用加权回归和等权回归相比,ADC化整误差和光电测量误差的影响将减小一个数量级。根据CCD器件的参数,能够确定像元数据的误差限值。再用蒙特卡罗法模拟误差分布规律,通过截尾分布数值的加权回归,求出使测量精密度提高的合理光束宽度范围。已将此方法用于冲击电流计的改进设计和位移测量,使微电流测量的精密度提高达两个数量级,并使30 mm内的微位移测量的非线性标准差不大于0.0025%。
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