最优阈值法检测晶振缺陷

被引:3
作者
李兵
邓善熙
李焕然
机构
[1] 合肥工业大学仪器仪表学院
[2] 深圳翠涛电子科技有限公司 安徽 合肥
[3] 安徽 合肥
[4] 广东 深圳
关键词
缺陷检测; 最优阈值; 图像分割; 晶振;
D O I
暂无
中图分类号
TN752 [振荡器];
学科分类号
080904 ;
摘要
为了对工业现场中晶振元件的缺陷进行检测,本文采用一种基于计算机图像处理的方法,由传统目测方法得到缺陷晶振的一般特征,然后对计算机采集到的图像按照缺陷分类,对每一种缺陷进行图像预处理和分析,在图像的分割中我们采用的是最优阈值统计算法,实验结果表明该算法能够达到预期的识别目的。
引用
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共 2 条
[1]   基于数学形态学的免疫细胞图象分割 [J].
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中国图象图形学报, 2002, (11) :18-21
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