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最优阈值法检测晶振缺陷
被引:3
作者
:
李兵
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0
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0
机构:
合肥工业大学仪器仪表学院
李兵
邓善熙
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0
机构:
合肥工业大学仪器仪表学院
邓善熙
李焕然
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0
机构:
合肥工业大学仪器仪表学院
李焕然
机构
:
[1]
合肥工业大学仪器仪表学院
[2]
深圳翠涛电子科技有限公司 安徽 合肥
[3]
安徽 合肥
[4]
广东 深圳
来源
:
电子质量
|
2003年
/ 08期
关键词
:
缺陷检测;
最优阈值;
图像分割;
晶振;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN752 [振荡器];
学科分类号
:
080904 ;
摘要
:
为了对工业现场中晶振元件的缺陷进行检测,本文采用一种基于计算机图像处理的方法,由传统目测方法得到缺陷晶振的一般特征,然后对计算机采集到的图像按照缺陷分类,对每一种缺陷进行图像预处理和分析,在图像的分割中我们采用的是最优阈值统计算法,实验结果表明该算法能够达到预期的识别目的。
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共 2 条
[1]
基于数学形态学的免疫细胞图象分割
[J].
谢凤英
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机构:
北京航空航天大学图象中心
谢凤英
;
姜志国
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机构:
北京航空航天大学图象中心
姜志国
;
周付根
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0
机构:
北京航空航天大学图象中心
周付根
.
中国图象图形学报,
2002,
(11)
:18
-21
[2]
数字图像处理.[M].(美)RafaelC.Gonzalez;(美)RichardE.Woods;(美)StevenL.Eddins著;阮秋琦等译;.电子工业出版社.2005,
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共 2 条
[1]
基于数学形态学的免疫细胞图象分割
[J].
谢凤英
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谢凤英
;
姜志国
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北京航空航天大学图象中心
姜志国
;
周付根
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周付根
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2002,
(11)
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数字图像处理.[M].(美)RafaelC.Gonzalez;(美)RichardE.Woods;(美)StevenL.Eddins著;阮秋琦等译;.电子工业出版社.2005,
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