酥性饼干基于温度变化的氧化货架寿命预测

被引:9
作者
徐芳 [1 ]
卢立新 [1 ]
许文才 [2 ]
机构
[1] 江南大学国家轻工业包装制品质量监督检测中心
[2] 北京印刷学院
关键词
饼干; 氧化; Arrhenius; 货架寿命;
D O I
暂无
中图分类号
TS213.22 [];
学科分类号
摘要
通过设定不同温度对酥性饼干这类油脂含量较高的食品进行加速氧化试验,测定不同温度下的过氧化值,以其氧化时间和对应的过氧化值的对数值进行回归拟合,获得产品氧化一级动力学方程,应用Arrhenius公式预测产品在任一温度下的货架寿命。
引用
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页数:3
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