电子束辐照对聚酰亚胺电气性能的影响

被引：10

作者：

刘晓东

张要强

马丽婵

郑晓泉

机构：

[1] 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室

来源：

绝缘材料 | 2006年 / 06期

关键词：

聚酰亚胺; 纳米改性; 电子辐射; 介电性能;

D O I：

10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2006.06.012

中图分类号：

TM215 [固体电介质];

学科分类号：

0805 ; 080502 ; 080801 ;

摘要：

研究了高能电子束辐照对聚酰亚胺薄膜(PI)试样电气性能的影响。实验发现高能电子束辐照后PI的介电常数减小,电导率增大,电损耗增大。利用原位聚合法把70纳米Al2O3粒子引入到PI薄膜中,对材料进行改性,实验发现改性后PI薄膜抗高能电子束辐射能力得到加强。

引用

页码：38 / 41

页数：4

共 6 条

[1] 杂化聚酰亚胺薄膜无机相形貌和介电性能研究 [J].

刘立柱 ;

梁冰 ;

王伟 ;

杨阳 ;

雷清泉 .

材料科学与工艺, 2006, (03) :265-267+271

[2] 聚酰亚胺/无机纳米杂化材料的研究 [J].

薛书凯 ;

姜昱 .

化工新型材料, 2006, (05) :5-7

[3] 空间环境下介质的可靠性与寿命的地面评价方法研究 [J].

郑晓泉 ;

王立 ;

秦晓刚 .

绝缘材料, 2006, (02) :24-28

[4] 电子束辐照对PMMA样品介电常数的影响研究 [J].

郑飞虎 ;

张冶文 ;

肖春 ;

夏俊峰 .

四川大学学报(自然科学版), 2005, (S1) :343-346

[5] 空间电荷在评估绝缘聚合物电老化程度中的应用研究 [J].

尹毅 ;

肖登明 ;

屠德民 .

中国电机工程学报, 2002, (01) :44-49

[6] 用等温电流法研究自由基清除剂的作用机理——聚合物电老化陷阱理论的实验验证 [J].

尹毅 ;

屠德民 ;

李明 ;

李忠华 .

中国电机工程学报, 2000, (03) :14-16+26

← 1 →