结合计算层析与光学相干层析测量折射率分布

被引:2
作者
戴云
张雨东
史国华
机构
[1] 中国科学院光电技术研究所
关键词
光学测量; 光学相干层析; 计算层析; 折射率;
D O I
暂无
中图分类号
TN206 [测试、调整及其设备];
学科分类号
0803 ; 080401 ; 080901 ;
摘要
通过将计算层析技术与光学相干层析技术相结合,测量散射介质非均匀折射率分布。该方法测量散射样品折射率分布时,通过光学相干层析技术测量散射样品折射率分布在多个方向上的投影,采用计算层析技术实现对样品折射率分布的层析重建,克服了传统折射率光学测量方法如单纯的基于光学相干层析原理的焦点追迹法和光程匹配法,不能测量散射介质非均匀折射率分布的缺点。采用该方法在实验中对梯度折射率棒的径向相对折射率分布进行层析重建,取得了较好的实验结果。
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页码:1666 / 1670
页数:5
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