从晶体取向特点探讨ZnO薄膜的晶体不完整性

被引:6
作者
侯长民 [1 ]
黄科科 [1 ]
高忠民 [1 ]
马艳 [2 ]
杜国同 [2 ]
李向山 [1 ]
冯守华 [1 ]
机构
[1] 吉林大学无机合成与制备化学国家重点实验室化学学院
[2] 吉林大学电子科学与工程学院集成光电子学国家重点实验室
关键词
氧化锌薄膜; 晶体取向; 取向柱状多晶体;
D O I
暂无
中图分类号
O484.1 [薄膜的生长、结构和外延];
学科分类号
080501 ; 1406 ;
摘要
用MOCVD法在蓝宝石衬底上得到了ZnO(0002)膜,并用XRD和SEM进行了表征.结果表明,薄膜中沿[0001]择优取向生长的柱状晶垂直于衬底表面,晶柱之间存在着边界和间隙.X射线Ф扫描实验结果表明,晶柱之间的取向偏差在3°30°之间.X射线ω摇摆曲线和谱线宽度分析结果表明,薄膜中的晶柱是由多个晶粒堆叠而成,且晶粒之间的平均取向偏差也在2.6°以上.实验结果表明,ZnO大失配度异质外延膜是c轴[0001]取向柱状多晶体,ZnO薄膜的结晶不完整性主要是由其柱状晶结构造成的.
引用
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页数:3
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