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具有亚像素级定位精度的激光三角测距新算法
被引:27
作者
:
孙军利
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机构:
上海交通大学仪器系
孙军利
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机构:
赵辉
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机构:
陶卫
机构
:
[1]
上海交通大学仪器系
来源
:
激光杂志
|
2006年
/ 04期
关键词
:
激光三角测距;
CCD;
多项式拟合;
加权平均;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN247 [光检测技术];
学科分类号
:
080904
[电磁场与微波技术]
;
摘要
:
在以CCD作为探测器的激光三角测距系统中,测距精度主要取决于激光光斑在CCD上成像的定位准确性。本文提出一种光斑定位的新算法,采用光斑附近一定区域内的所有节点分别进行插值,并分别赋于不同的权值,然后进行加权平均,最终得到光斑的准确位置。该算法充分利用了光斑附近的众多信息,避免了单个节点对定位精度的影响,显著提高了定位精度和稳定性。实验证明,可以达到1/10像素定位精度。
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[1]
CCD激光微位移测量头在应用中的问题及对策
[J].
石成英
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姜勤波
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西北工业大学控制系,第二炮兵工程学院一系,第二炮兵工程学院一系,西北工业大学控制系西安第二炮兵工程学院一系,西安,西安,西安,西安
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张启灿
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2004,
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王文
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陈子辰
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2003,
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CCD细分技术方法研究及应用
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谌廷政
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郭文阁
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现代计量测试,
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应用多项式插值函数提高面阵CCD尺寸测量的分辨力
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张启明
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仪器仪表学报,
1996,
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共 7 条
[1]
CCD激光微位移测量头在应用中的问题及对策
[J].
石成英
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西北工业大学控制系,第二炮兵工程学院一系,第二炮兵工程学院一系,西北工业大学控制系西安第二炮兵工程学院一系,西安,西安,西安,西安
石成英
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西北工业大学控制系,第二炮兵工程学院一系,第二炮兵工程学院一系,西北工业大学控制系西安第二炮兵工程学院一系,西安,西安,西安,西安
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.
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2004,
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张启灿
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2004,
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:196
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[3]
激光三角法测量误差分析与精度提高研究
[J].
吴剑锋
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浙江大学现代制造工程研究所,浙江大学现代制造工程研究所,浙江大学现代制造工程研究所杭州,杭州,杭州
吴剑锋
;
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机构:
王文
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机构:
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.
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(05)
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[4]
CCD细分技术方法研究及应用
[J].
谌廷政
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机构:
国防科技大学机电工程与自动化学院,国防科技大学机电工程与自动化学院长沙,长沙
谌廷政
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机构:
吕海宝
.
光学学报,
2002,
(11)
:1396
-1399
[5]
提高CCD在激光三角测距中分辨率的方法
[J].
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赵建林
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郭文阁
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郭文阁
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杨德兴
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光子学报,
1997,
(11)
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提高CCD分辨率的一种尝试
[J].
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金杰
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徐锡林
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上海交通大学仪器工程系
徐锡林
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现代计量测试,
1997,
(03)
[7]
应用多项式插值函数提高面阵CCD尺寸测量的分辨力
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吴晓波
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张启明
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重庆大学光电精密仪器系,重庆大学计算机系
张启明
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仪器仪表学报,
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