干涉条纹细化的曲线拟合方法

被引：10

作者：

周恕义

关承祥

金国藩

机构：

[1] 哈尔滨师范大学物理系!哈尔滨

[2] 清华大学!北京

来源：

电子测量与仪器学报 | 1998年 / 03期

基金：

黑龙江省自然科学基金;

关键词：

干涉条纹; 细化; 曲线拟合;

D O I：

10.13382/j.jemi.1998.03.003

中图分类号：

TP274 [数据处理、数据处理系统];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;

摘要：

针对干涉图解析法的面形测量，提出了用最小二乘法做二次曲线拟合对干涉条纹进行细化的方法，提高了CCD测试精度，给出了实测结果。

引用

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页数：5

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共 4 条

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