XPS在酞菁类有机半导体研究方面的应用

被引：2

作者：

徐明生

季振国

袁骏

许倩斐

阙端麟

陈红征

汪茫

机构：

[1] 浙江大学硅材料国家重点实验室!杭州

[2] 浙江大学高分子科学与材料研究所!杭州

[3] 浙江大学高分

来源：

关键词：

有机半导体; X光电子能谱; 电子结构;

D O I：

10.13922/j.cnki.cjovst.2000.01.013

中图分类号：

TN29 [光电子技术的应用];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ;

摘要：

作为探测分子和样品表面和界面的电子结构的有效手段 ,XPS能够为材料及器件的设计提供有价值的信息。本文从定量分析、生长模式、界面和电子结构等方面论述了XPS在有机半导体领域的研究情况

引用

页码：57 / 61

页数：5

共 7 条

[1] 稀土酞菁配合物的XPS研究 [J].

李振祥 ;

谢云芬 ;

倪嘉缵 .

[2]

Schlatmann A R, Floet D W, Hiberer A et al. Applied Physics Letters . 1996

[3]

Imanishi Y, Hattori S, Kakuta A et al. Physical Review . 1993

[4]

Ottaviano L, Dinardo S, Lozzi L et al. Surface Science . 1997

[5]

Enokida T, Hirohashi R, Kurata R. Journal of Applied Physics . 1991

[6]

Nguyen T P, de Vos S. Vacuum . 1996

[7]

Wang T, Kang E T, Neoh K G et al. Synthetic Metals . 1997