模拟电路可测拓扑条件和可测性分析及可测性设计

被引：20

作者：

孙义闯

何怡刚

机构：

[1] 英国Hertfordshire大学工程与信息科学学院电子通讯与电气工程系,湖南大学电气与信息工程学院湖南长沙

来源：

基金：

高等学校骨干教师资助计划; 湖南省自然科学基金;

关键词：

模拟电路; 故障诊断; 可测性;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN710 [电子电路];

学科分类号：

140101 [集成纳电子科学];

摘要：

深刻地阐述了系统的可测性问题 ,提出了从可测性分析和可测性设计两方面进行研究的观点 .针对支路故障诊断法 ,讨论了可测拓扑条件、可测性分析和可测性设计问题 ,提出了几个新的必要且几乎充分可测拓扑条件 ,并依据这些条件给出了可测性分析和可测性设计的一些方法

引用

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