用红外光谱研究室温硫化硅橡胶电晕老化及寿命估计

被引：36

作者：

蓝磊

文习山

刘辉

机构：

[1] 武汉大学电气工程学院

来源：

高电压技术 | 2009年 / 35卷 / 11期

关键词：

电晕; 老化; 傅立叶变换红外光谱; 纳米材料; 寿命; 陷阱;

D O I：

10.13336/j.1003-6520.hve.2009.11.001

中图分类号：

TQ330.7 [橡胶性能测定];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

电晕是引起室温硫化硅橡胶(RTV)老化的重要因素之一,因此对RTV进行了电晕老化试验,并利用傅立叶变换红外光谱(FTIR)分析了RTV的电晕老化性能,比较了不同材料RTV的电晕老化性能,试验结果表明,纳米材料可以明显改善RTV的电晕老化性能。还分析了纳米材料提高RTV抗电晕性的机理,利用基于陷阱理论的聚合物电老化寿命公式及电晕老化前后材料的红外光谱变化评估了RTV的寿命,纳米材料能使RTV的电晕老化寿命提高到3～4.9倍。此方法可为定量评估有机绝缘材料寿命提供参考。

引用

页码：2652 / 2656

页数：5

共 13 条

[1]

电气绝缘材料科学与工程.[M].巫松桢等编;.西安交通大学出版社.1996,

[2]

高电压绝缘基础.[M].沈其工著;.江苏科学技术出版社.1990,

[3]

高压电气设备局部放电.[M].[苏]Г·С·库钦斯基(Г·С·Кучинский) 著;徐永禧;胡维新译.水利电力出版社.1984,

[4] PE/MMT纳米复合材料的电击穿与耐局放性能 [J].