两种陶瓷薄膜的透射电镜研究

被引:1
作者
罗庆洪 [1 ]
陆永浩 [1 ]
娄艳芝 [2 ]
王燕斌 [1 ]
杨会生 [1 ]
机构
[1] 北京科技大学材料物理与化学系
[2] 北京航空材料研究院
关键词
显微结构; 硬质薄膜; 磁控溅射;
D O I
暂无
中图分类号
TH74 [光学仪器];
学科分类号
080401 [精密仪器及机械];
摘要
采用高分辨透射电镜技术对两种硬质薄膜(AlTiN多层薄膜和AlCN非晶薄膜)样品的显微结构进行了研究。结果表明:在高速钢基体上制备的AlTiN多层薄膜由两种氮含量交替变化的膜层构成,尽管交替的两层中氮含量不同,但每一单层都为纳米晶包含在非晶点阵中的纳米复合结构,不同之处是低氮含量层中纳米晶密度较小;生长在单晶硅基体(100)晶面上的非晶AlCN薄膜,在膜基界面处硅基体上出现应力畸变层,应力畸变层厚度很薄,约3~5个原子层。比较Si的应变层和非应变区的傅里叶变换结果,片状的应变层产生形状效应,使得傅里叶变换图中斑点沿垂直于片状应变层方向拉长成线状。
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