非恒定环境光条件下的相位测量剖面术

被引：26

作者：

李万松

苏显渝

苏礼坤

向立群

机构：

[1] 四川大学光电科学技术系!成都,四川大学光电科学技术系!成都,四川大学光电科学技术系!成都,四川大学光电科学技术系!成都

来源：

关键词：

相位测量剖面术; 环境光; 灰度校正;

D O I：

暂无

中图分类号：

O438 [信息光学];

学科分类号：

070207 [光学];

摘要：

在野外运用相位测量剖面术 (PMP)测量物体三维面型时 ,环境光场经常发生变化 ,从而严重影响测量精度。分析了环境光场发生变化对相位测量剖面术的影响 ,并提出了一种对 CCD摄像机获取的条纹图像进行灰度校正的方法。经过校正处理 ,环境光的影响被大幅度抑制 ,提高了测量精度。

引用

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