工业CT图像的伪影成因和校正方法综述

被引：24

作者：

谷建伟

张丽

陈志强

邢宇翔

高河伟

机构：

[1] 清华大学工程物理系,清华大学工程物理系,清华大学工程物理系,清华大学工程物理系,清华大学工程物理系,北京,,北京,,北京,,北京,,北京

来源：

CT理论与应用研究 | 2005年 / 03期

关键词：

工业CT; 无损检测; 图像; 伪影校正;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP391.4 [模式识别与装置];

学科分类号：

0811 ; 081101 ; 081104 ; 1405 ;

摘要：

X射线CT在工业无损检测、医学、安检等领域发挥着重要的作用。但在实际检测中,CT系统重建的图像存在各种伪影。本文从CT的系统整体设计、X射线管和探测器等角度综述了影响伪影形成的各种因素,并对每种伪影的成因作了归纳;针对这些伪影,跟踪近些年文献中主要的校正方法作了介绍,并对这些校正方法作了比较、讨论和小结。

引用

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