CCD像元光电转换率不一致性补偿技术

被引：3

作者：

居戬之 ^{[1
]}

韦晓茹 ^{[2
]}

朱亚一 ^{[2
]}

吴建宏 ^{[2
]}

机构：

[1] 苏州大学仪器光学工程研究所

[2] 苏州大学信息光学工程研究所

来源：

传感器世界 | 2007年 / 10期

基金：

国家高技术研究发展计划(863计划);

关键词：

光电耦合器件; 不一致性; 修正;

D O I：

10.16204/j.cnki.sw.2007.10.001

中图分类号：

TN386.5 [电荷耦合器件];

学科分类号：

0805 ; 080501 ; 080502 ; 080903 ;

摘要：

从理论上分析了CCD像元光电转换率不一致性产生的多种原因。提出了一种简易实用的方法对不一致性进行修正:用照度均匀的光照射CCD,测出每个像元上的光电转换信号大小,计算出像元间的差异,从而得到每个像元的修正系数。对实际CCD的测量值进行这样的修正后使得CCD各像元的光电转换率在表观上达到一致。实验结果表明:通过修正后可以有效地减少像元光电转换率的不一致性,误差均方根提高了一个数量级。

引用

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页数：4

共 5 条

[1] 多通道超声检测系统数据采集与控制技术研究 [J].