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放射性同位素X射线荧光分析[M]. 原子能出版社 , 张家骅等 编著, 1981
轻便X荧光仪上应用特/散法的探讨
被引：5
作者：
周四春
章晔
机构：
[1] 成都地质学院
来源：
关键词：
轻便X射线荧光仪;
特/散法的校正机理;
吸收突变影响;
吸收效应校正;
地质粉末样品;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
本文针对轻便X射线荧光仪,探讨了特/散法的校正机理,并主要结合地质粉末样品测量,讨论了方法的应用条件及有关影响因素。
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