智能机内测试研究综述

机内测试(BIT)是一种能显著提高系统测试性和诊断能力的重要技术,已大量应用于当代航空系统和武器装备中。但虚警问题是困扰BIT应用的重大难题,并严重影响着武器装备的战备完好性和全寿命周期费用;因此,为从根本上解决BIT的虚警问题,智能BIT技术就成为测试领域21世纪的重点研究项目之一;首先简要介绍了BIT虚警的两个主要产生原因,然后重点概述了智能BIT的发展状况,并分析了当前研究方法中存在的不足,最后在研究BIT不确定性的基础上提出了基于粗糙集的智能BIT故障诊断新技术,并指出了该技术中需要研究的若干关键问题。