智能机内测试研究综述

被引：14

作者：

张超 ^{[1
]}

马存宝 ^{[1
]}

宋东 ^{[1
]}

许家栋 ^{[2
]}

机构：

[1] 西北工业大学航空学院

[2] 西北工业大学电子信息学院

来源：

计算机测量与控制 | 2007年 / 02期

关键词：

智能机内测试; 测试性; 虚警; 粗糙集; 故障诊断;

D O I：

10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2007.02.001

中图分类号：

V241.06 [试验与试验设备];

学科分类号：

摘要：

机内测试(BIT)是一种能显著提高系统测试性和诊断能力的重要技术,已大量应用于当代航空系统和武器装备中。但虚警问题是困扰BIT应用的重大难题,并严重影响着武器装备的战备完好性和全寿命周期费用;因此,为从根本上解决BIT的虚警问题,智能BIT技术就成为测试领域21世纪的重点研究项目之一;首先简要介绍了BIT虚警的两个主要产生原因,然后重点概述了智能BIT的发展状况,并分析了当前研究方法中存在的不足,最后在研究BIT不确定性的基础上提出了基于粗糙集的智能BIT故障诊断新技术,并指出了该技术中需要研究的若干关键问题。

引用

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页数：5