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- [5] 基于高光谱图像技术的苹果粉质化LLE-SVM分类[J]. 赵桂林,朱启兵,黄敏. 光谱学与光谱分析. 2010(10)
基于高光谱成像技术的苹果表面轻微损伤检测
被引：8
作者：
田有文
[1
]
牟鑫
[1
]
程怡
[1
]
胡博
[2
]
机构：
[1] 沈阳农业大学信息与电气工程学院
[2] 国网辽宁省电力有限公司鞍山供电公司
来源：
关键词：
高光谱成像;
轻微损伤;
检测;
苹果;
D O I：
暂无
中图分类号：
TP391.41 [];
S661.1 [苹果];
学科分类号：
080203 ;
摘要：
为了研究检测苹果表面轻微损伤的有效的方法,以红富士苹果为试验样本,通过高光谱成像采集系统采集苹果样本的高光谱图像,根据正常苹果表面区域和刚损伤、损伤后(3,10,24h)的损伤区域光谱反射率平均曲线得到有效光谱区域;用掩膜法对图像进行背景分割,并基于有效光谱区域做主成分分析,选取第四主成分(PC4)提取损伤区域,运用阈值分割的方法建立提取损伤区域的算法模型;应用该算法模型对正常苹果和损伤苹果进行检测。检测结果表明:正常苹果样本正确检测率达到100%,损伤苹果样本的正确检测率为97.5%,总体检测精确度高达98.75%,说明利用高光谱成像技术可以有效快速检测出苹果表面的轻微损伤。
引用
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页数：5
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