碱式模式氢化物发生原子荧光法测定食用菌中痕量锗

被引：16

作者：

孙汉文

锁然

吕运开

张德强

机构：

[1] 河北大学化学系!保定

[2] 河北农业大学食品系!保定

来源：

分析试验室 | 2001年 / 01期

关键词：

碱式模式; 氢化物发生; 原子荧光法; 食用菌; 锗;

D O I：

10.13595/j.cnki.issn1000-0720.2001.0029

中图分类号：

O657.31 [原子发射光谱分析法];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

研究了碱式模式氢化物发生原子荧光法测定痕量锗。考察了 HG- AFS仪器参数及氢化物发生条件对锗荧光强度的影响以及常见共存元素的干扰。在选定的最佳工作条件下 ,测定了真菌中的痕量锗。方法检出限 (3σ)为 0 .76μg/L,相对标准偏差 (RSD)为 0 .81 % ,回收率为 94.6%～ 1 0 1 .3%。

引用

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