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基于光探针技术的自聚焦透镜光斑测量方法
被引:12
作者
:
糜长稳
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机构:
中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系合肥,合肥,合肥,合肥
糜长稳
王克逸
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机构:
中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系合肥,合肥,合肥,合肥
王克逸
李明
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中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系合肥,合肥,合肥,合肥
李明
章荣平
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中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系合肥,合肥,合肥,合肥
章荣平
机构
:
[1]
中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,中国科学技术大学精密机械与精密仪器系合肥,合肥,合肥,合肥
来源
:
光子学报
|
2004年
/ 02期
关键词
:
光探针;
自聚焦透镜;
光斑测量;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O435 [几何光学];
学科分类号
:
070207 ;
0803 ;
摘要
:
以扫描探针显微理论为基础 ,讨论了基于光学纤维探针技术的自聚焦透镜光斑测量方法 ,介绍了实验系统的构成和测量原理、光学探针的制作和软件控制技术 ,并且以日本产NSG自聚焦透镜为样品进行了光斑测量和分析 所得结果对于评价自聚焦透镜的成像性能具有重要意义
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页数:4
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共 4 条
[1]
两种测量光斑的方法
[J].
李宁华
论文数:
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中国科学技术大学
李宁华
;
胡玉禧
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中国科学技术大学
胡玉禧
;
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机构:
王克逸
.
工具技术,
2002,
(04)
:35
-37
[2]
自聚焦透镜光斑直径、分辨率测试研究
[J].
黎高平,宗亚康,吴宝宁,张越,贾大明,孔军,杨照金
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机构:
国防科工委光学计量站
黎高平,宗亚康,吴宝宁,张越,贾大明,孔军,杨照金
.
应用光学,
1995,
(06)
:45
-48
[3]
激光光斑测量仪
[J].
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武汉工业大学
刘晓兵,刘智
;
文捷,阮玉
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机构:
武汉工业大学
文捷,阮玉
.
激光技术,
1995,
(03)
:186
-190
[4]
Gradientindexoptics .2 MarcbandEW. AcademicPress . 1978
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共 4 条
[1]
两种测量光斑的方法
[J].
李宁华
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机构:
中国科学技术大学
李宁华
;
胡玉禧
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机构:
中国科学技术大学
胡玉禧
;
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机构:
王克逸
.
工具技术,
2002,
(04)
:35
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[2]
自聚焦透镜光斑直径、分辨率测试研究
[J].
黎高平,宗亚康,吴宝宁,张越,贾大明,孔军,杨照金
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机构:
国防科工委光学计量站
黎高平,宗亚康,吴宝宁,张越,贾大明,孔军,杨照金
.
应用光学,
1995,
(06)
:45
-48
[3]
激光光斑测量仪
[J].
刘晓兵,刘智
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机构:
武汉工业大学
刘晓兵,刘智
;
文捷,阮玉
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机构:
武汉工业大学
文捷,阮玉
.
激光技术,
1995,
(03)
:186
-190
[4]
Gradientindexoptics .2 MarcbandEW. AcademicPress . 1978
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