TD-LTE测试系统载波泄漏测量不确定度评定

被引：4

作者：

徐波

机构：

[1] 中国电子科技集团公司第四十一研究所

来源：

国外电子测量技术 | 2013年 / 32卷 / 05期

关键词：

TD-LTE; 载波泄漏; 测量不确定度; 评定;

D O I：

10.19652/j.cnki.femt.2013.05.013

中图分类号：

TN98 [];

学科分类号：

0809 ;

摘要：

TD-LTE终端载波泄漏是由交调引起的干扰,是TD-LTE射频一致性测试系统的一个非常重要的技术指标,通常可以用TD-LTE无线终端综合测试仪来测量。本文阐述了如何运用数学模型,开展载波泄漏的策略不确定度评定的方法。根据实验室的测量环境及测量仪器设备,依据评定准则,重点讨论了误差产生来源,确定了影响载波泄漏测试稳定性的主要因素,给出了相应不确定度的计算方法。最终实现了TD-LTE终端载波泄漏测量不确定度的评定,并给出了测量结果。

引用

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共 10 条

[1] 直流电子负载基本工作模式的测量不确定度评定 [J].