基于FPGA的线阵CCD亚像元边缘检测片上系统

被引：20

作者：

谷林

胡晓东

陈良益

曾志雄

不详

机构：

[1] 中国科学院西安光学精密机械研究所

[2] 中国科学院西安光学精密机械研究所西安

[3] 西安

[4] 西安

来源：

光子学报 | 2004年 / 05期

关键词：

CCD; FPGA; VYDL; 亚像元; 片上系统; 边缘检测;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN386 [场效应器件];

学科分类号：

摘要：

为提高线阵CCD边缘检测系统的精度、速度、集成度 ,以及系统的可靠性 ,提出一种集成于单片FPGA、全数字化的亚像元边缘检测系统根据图像边缘灰度梯度的阶跃特性 ,通过边缘自动检测算法确定出经过高斯滤波处理的CCD图像的像元级边界 ,在此基础上应用多项式插值算法对图像边缘位置进行亚像元细分 ,实现亚像元边缘检测以FPGA作为系统的处理核心及数字电路硬件载体 ,利用VHDL语言以及MAX +plusⅡ软件对系统进行模块化设计 ,设计出集成于单片FPGA的线阵CCD亚像元边缘检测系统系统仿真和测试表明 ,所设计的片上系统具有高精度、高速度、高集成度、高可靠性的特点

引用

页码：617 / 621

页数：5

共 7 条

[1] 采用CCD的非接触测量中提高精度的一种方法 [J].