基于扫描白光干涉法的接触式表面形貌轮廓测量仪

被引:11
作者
张玲玲
谢铁邦
机构
[1] 华中科技大学机械学院仪器系
关键词
扫描白光干涉法; 重心法; 接触式测量; 表面形貌;
D O I
暂无
中图分类号
TG84 [表面光洁度(表面粗糙度)的测量及其量仪];
学科分类号
120111 [工业工程];
摘要
本文提出了一种以杠杆触针机构作为微位移传感器,将扫描白光干涉法运用于接触式表面形貌测量的轮廓仪。该仪器的理论分辩力可达纳米级,与垂直扫描测量工作台相结合,测量范围可达5mm。文中重点论述了该轮廓仪测量系统的构成,测量原理,干涉信号数据处理。
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共 1 条
[1]
基于扫描白光干涉法的表面三维轮廓仪 [J].
何永辉 ;
蒋剑峰 ;
赵万生 .
光学技术, 2001, (02) :150-152+155