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一种新的复杂背景下红外弱小目标检测方法
被引:5
作者
:
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机构:
王鑫
唐振民
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机构:
南京理工大学计算机科学与技术学院
唐振民
机构
:
[1]
南京理工大学计算机科学与技术学院
来源
:
系统仿真学报
|
2009年
/ 20期
关键词
:
弱小目标检测;
复杂背景;
小波包变换;
偏斜度;
D O I
:
10.16182/j.cnki.joss.2009.20.037
中图分类号
:
TP391.41 [];
学科分类号
:
080203 ;
摘要
:
针对复杂背景下单帧红外图像中的弱小目标检测问题,提出了一种新的基于小波包变换和偏斜度的检测方法。该方法利用小波包对图像进行多尺度分解,解决了高频段分辨率低的问题;并提出了一个基于偏斜度的高斯判别准则,用于对小波包分解系数进行高斯性检验,最终得到了小目标的精确检测。对实测数据进行仿真实验,结果表明该方法能有效检测红外弱小目标。
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相关论文
共 8 条
[1]
基于高阶统计判据的红外弱小运动目标检测
[J].
胡文江
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西安电子科技大学电子工程学院模式识别与智能控制研究所
胡文江
;
应陈克
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西安电子科技大学电子工程学院模式识别与智能控制研究所
应陈克
;
赵亦工
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西安电子科技大学电子工程学院模式识别与智能控制研究所
赵亦工
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红外与激光工程,
2007,
(03)
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-420
[2]
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电子器件,
2007,
(03)
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-994+998
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基于三阶累积量的红外弱小运动目标检测新方法
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.
红外与毫米波学报,
2006,
(05)
:364
-367
[4]
指定功率谱密度、偏斜度和峭度值下的非高斯随机过程数字模拟
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陈循
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国防科技大学机电工程与自动化学院
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陶俊勇
;
张春华
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国防科技大学机电工程与自动化学院
张春华
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2006,
(05)
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-1130
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基于形状统计量的空中目标识别
[J].
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朱孝开
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国防科技大学ATR国家重点实验室
魏玺章
;
黎湘
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国防科技大学ATR国家重点实验室
黎湘
;
庄钊文
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国防科技大学ATR国家重点实验室
庄钊文
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系统工程与电子技术,
2005,
(08)
:1394
-1396
[6]
现代信号处理[M]. 清华大学出版社 , 张贤达著, 2002
[7]
Skewness and kurtosis of 1/f noise in semiconductor devices
[J].
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Principato, F
;
Ferrante, G
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Fac Ingn, Unita Palermo, INFM, I-90128 Palermo, Italy
Ferrante, G
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MICROELECTRONICS RELIABILITY,
2000,
40
(11)
:1969
-1973
[8]
Combining an adapted wavelet analysis with fourth-order statistics for transient detection
[J].
Ravier, P
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机构:
ENSIEG, LIS, CEPHAG, F-38402 St Martin Dheres, France
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Ravier, P
;
Amblard, PO
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ENSIEG, LIS, CEPHAG, F-38402 St Martin Dheres, France
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Amblard, PO
.
SIGNAL PROCESSING,
1998,
70
(02)
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共 8 条
[1]
基于高阶统计判据的红外弱小运动目标检测
[J].
胡文江
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机构:
西安电子科技大学电子工程学院模式识别与智能控制研究所
胡文江
;
应陈克
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西安电子科技大学电子工程学院模式识别与智能控制研究所
应陈克
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赵亦工
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.
红外与激光工程,
2007,
(03)
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[2]
基于小波变换的海空背景下小目标检测研究
[J].
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王艳华
;
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;
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.
电子器件,
2007,
(03)
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基于三阶累积量的红外弱小运动目标检测新方法
[J].
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(05)
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指定功率谱密度、偏斜度和峭度值下的非高斯随机过程数字模拟
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基于形状统计量的空中目标识别
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国防科技大学ATR国家重点实验室
廖东平
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朱孝开
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庄钊文
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庄钊文
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系统工程与电子技术,
2005,
(08)
:1394
-1396
[6]
现代信号处理[M]. 清华大学出版社 , 张贤达著, 2002
[7]
Skewness and kurtosis of 1/f noise in semiconductor devices
[J].
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机构:
Principato, F
;
Ferrante, G
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机构:
Fac Ingn, Unita Palermo, INFM, I-90128 Palermo, Italy
Ferrante, G
.
MICROELECTRONICS RELIABILITY,
2000,
40
(11)
:1969
-1973
[8]
Combining an adapted wavelet analysis with fourth-order statistics for transient detection
[J].
Ravier, P
论文数:
0
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机构:
ENSIEG, LIS, CEPHAG, F-38402 St Martin Dheres, France
ENSIEG, LIS, CEPHAG, F-38402 St Martin Dheres, France
Ravier, P
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Amblard, PO
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ENSIEG, LIS, CEPHAG, F-38402 St Martin Dheres, France
ENSIEG, LIS, CEPHAG, F-38402 St Martin Dheres, France
Amblard, PO
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SIGNAL PROCESSING,
1998,
70
(02)
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