共 5 条
相移雅满横向剪切干涉仪
被引:11
作者:
王利娟
刘立人
栾竹
孙建锋
周煜
机构:
[1] 中国科学院上海光学精密机械研究所
来源:
关键词:
光学器件;
横向剪切干涉仪;
相移;
波面检测;
D O I:
暂无
中图分类号:
TH744.3 [];
学科分类号:
摘要:
雅满横向剪切干涉仪是一种很重要的波面枪测仪器,特别是可以对白光的波面进行检测。为了弥补传统雅满横向剪切十涉仪的不足,提出了一种相移雅满横向剪切十涉仪。它是在雅满横向剪切干涉光路中插入起偏器,1/4波片和检偏器所形成,实现了剪切干涉与相移的结合,能有效地提高测量精度,可适用于白光的波面检测,结构简单且操作方便。实验中通过旋转检偏器获得了相移下涉图,其结果很好地验证了该相移雅满横向剪切十涉仪的有效性。
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页码:1156 / 1159
页数:4
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