质谱同位素稀释法测定UO标样中痕量Th

被引：2

作者：

毕松苓

孟宪厚

机构：

[1] 核工业部北京第五研究所

来源：

关键词：

IDMS; Th; 230Th; 234Th示踪; 萃淋树脂; U3O8;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

以230Th作稀释剂用IDMS测定了U3O8标样中痕量Th。取样1g,先在9mol/l HCI体系中用阴离子交换法除去大量U及Fe、Pb等杂质,进而以CL5209型萃淋树脂分离Th。本法测Th的检出限为2.4×10-9g。分析含Th 0.873 ppm 的U3O3试样时方法的精密度为±3.3%。

引用

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