基于主动热成像技术的苹果表面缺陷分类方法

被引:8
作者
周建民
张瑞丰
机构
[1] 华东交通大学机电工程学院
关键词
苹果; 缺陷; 分类; 热成像;
D O I
暂无
中图分类号
S661.1 [苹果]; TP391.41 [];
学科分类号
080203 ;
摘要
针对苹果在分级中缺陷检测及缺陷种类的判断,提出了苹果的擦伤、撞伤、虫孔及腐烂等缺陷检测方法,利用红外热像图中的线轮廓温度曲线来判断果梗、花萼;主动加热过程中虫孔处与果体外温差相对较小,擦伤、撞伤及腐烂处的导热系数不同,从而导致其在红外热像图中对应表面上的点的温度随时间的变化曲线也不相同,据此提出了利用温度变化曲线来区分不同缺陷种类的方法。
引用
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