共 10 条
- [9] GB/T 4585-2004. 交流系统用高压绝缘子的人工污秽试验[S]. 1984
- [10] 电力系统污秽与覆冰绝缘[M]. 中国电力出版社 , 蒋兴良, 2009
污秽不均匀度对XP-160绝缘子串交流闪络特性的影响
被引：32
作者：
张志劲
刘小欢
蒋兴良
袁超
胡建林
机构：
[1] 重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室
来源：
关键词：
绝缘子;
污闪;
泄漏电流;
附盐密度;
污秽不均匀度;
闪络电压;
D O I：
暂无
中图分类号：
TM216 [绝缘子和套管];
学科分类号：
摘要：
实际运行中的绝缘子上/下表面的污秽分布并不是均匀的,因此对不均匀污秽下绝缘子的污闪特性进行了研究。通过对7片XP-160标准瓷绝缘子串在污秽分布不均匀时的交流闪络特性进行试验,得到了不同盐密、不同污秽不均匀度(上、下表面盐密比,T/B)下的绝缘子串闪络特性。对不同污秽不均匀度下表面污层电导和泄漏电流与绝缘子串污闪电压的关系进行了分析,结果表明:盐密和污秽不均匀度对绝缘子串的污闪电压都有影响,且两者的影响互相独立;绝缘子串的污闪电压会随着T/B的减小而增大;7片XP-160绝缘子串的污闪电压(Uf)与附盐密度(ρSDD)、T/B分别满足幂函数和对数函数关系,通过数据拟合得到污秽影响特征指数b及不均匀污秽下修正系数C分别为0.365和0.501;不均匀污秽下,绝缘子表面污层电阻增大是导致XP-160绝缘子串交流污闪电压提高的主要原因。
引用
收藏
页码：280 / 286
页数：7
相关论文